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贵金属分析仪

贵金属分析仪E8-PMA E8-PMA是一款高性能专业测试贵金属的能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF尖端技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告; E8-PMA采用小光斑设计,多种工作模型供选择,测试数据精确高,稳定性强。


贵金属分析仪E8-PMA
贵金属中金银铜含量检测、贵金属纯度检测、贵金属回收等领域

 

贵金属中有害元素检测

外形特点

● 仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运

● 上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重

● 表面采用高档汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰

● 可视化样品窗

辐射防护 

● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线

● 辐射标志警示

● 迷宫式结构,防止射线泄漏

● 安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X射线

● 仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》

硬件技术

● 超短光路设计:提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命

● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率

● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计

● 电路系统符合EMCFCC测试标准

● 专利技术快拆样品盘,更换薄膜更方便

软件技术

● 分析元素:Na~U之间元素

● 分析时间:180

● 软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作

● HeLeeX ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原、一键清理功能保护用户数据安全

● HeLeeX ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度

● HeLeeX ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型

探测器

● 类型:X123探测器(采用原装进口高性能电致冷半导体探测器)

● Be窗厚度:1mil

● 晶体面积:25mm2

● 蕞佳分辨率:145eV

● 信号处理系统DP5

X射线管

●      0~50kV

● 蕞大电流 2.0mA

● 蕞大功率 50W

●      Mo

● Be窗厚度 0.2mm

● 使用寿命 :大于2万小时

高压电源

● 输出电压:0~50kV

● 灯丝电流:0~2mA

● 蕞大功率:50W

● 纹波系数:0.1%p-p 8小时稳定性:0.05%

摄像头

● 微焦距

● 500万像素

准直器、滤光片

● 快拆卸准直器、滤光片系统

● 多种材质准直器

● 光斑大小Φ0.3mmΦ0.7mmΦ1.2mmΦ2.0mmΦ5.0mmΦ7.0mm可选

● 多种滤光片、准直器组合,软件自动切换

其他配件

进口高性能开关电源

进口低噪声、大风量风扇

● 外形尺寸:380 mm x 510mm x 365 mm (长xx高)

 

样品仓尺寸:360mm×330 mm ×50 mm (长xx高)

 

● 仪器重量:33.5kg

 

● 供电电源:AC220V/ 50Hz

 

● 蕞大功率:330W

 

● 工作温度:15-30

 

● 相对湿度:≤85%,不结露

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